掃描電鏡制樣是一項非常重要的工作，制備不良的樣品會嚴重影響SEM掃描電鏡觀察的效果和分析結果。以下是掃描電鏡制樣對樣品的一些基本要求：

平整度：樣品表面應盡可能平整，避免出現(xiàn)明顯的凸起或凹陷，這有助于電子束的掃描和定位。

干燥度：樣品應干燥透徹，否則水分會干擾電子束的穿透和反射，影響掃描電鏡觀察效果。

穩(wěn)定性：樣品應具有較好的穩(wěn)定性，以避免SEM掃描電鏡觀察過程中出現(xiàn)樣品的變形、脫落或其它異常情況。

導電性：樣品應具有一定的導電性，以便電子束可以穿透和反射，形成清晰的掃描電鏡圖像。

厚度：樣品應制備成較薄的薄片或薄膜，以便電子束可以穿透并掃描到樣品表面，獲得高分辨率的SEM掃描電鏡圖像。

純度：樣品應具有較高的純度，以避免掃描電鏡觀察過程中出現(xiàn)其它雜質(zhì)或物質(zhì)的干擾。